Parametric Reliability of 6T-SRAM Core Cell Arrays (Selected Topics of Electronics and Micromechatronics /Ausgewählte Probleme der Elektronik und Mikromechatronik)
5 Angebote vergleichen
| Preise | Okt. 15 | Mai 16 | Aug. 16 |
|---|---|---|---|
| Schnitt | € 51,85 | € 44,23 | € 48,80 |
| Nachfrage |
1
Parametric reliability of 6T-SRAM core cell arrays. (2012)
DEISBN: 9783844010091 bzw. 3844010092, in Deutsch, Aachen : Shaker.
Lieferung aus: Deutschland, zzgl. Versandkosten.
Von Händler/Antiquariat, Speyer & Peters GmbH, 12165 Berlin.
1. Aufl. V, 160 S. : graph. Darst. ; 21 cm, 254 g kart. ISBN 9783844010091 Versand D: 3,45 EUR Statisches RAM ; Speicherzelle ; MOS-FET ; Degradation ; Zuverlässigkeit ; Flip-Flop ; CMOS ; Nanometerbereich, Elektrotechnik, Elektronik.
Von Händler/Antiquariat, Speyer & Peters GmbH, 12165 Berlin.
1. Aufl. V, 160 S. : graph. Darst. ; 21 cm, 254 g kart. ISBN 9783844010091 Versand D: 3,45 EUR Statisches RAM ; Speicherzelle ; MOS-FET ; Degradation ; Zuverlässigkeit ; Flip-Flop ; CMOS ; Nanometerbereich, Elektrotechnik, Elektronik.
2
Parametric Reliability of 6T-SRAM Core Cell Arrays
DE PB NWISBN: 9783844010091 bzw. 3844010092, in Deutsch, Shaker Verlag, Taschenbuch, neu.
Lieferung aus: Deutschland, zzgl. Versandkosten.
Von Händler/Antiquariat, buchZ AG, [3859792].
Die Beschreibung dieses Angebotes ist von geringer Qualität oder in einer Fremdsprache. Trotzdem anzeigen
Von Händler/Antiquariat, buchZ AG, [3859792].
Die Beschreibung dieses Angebotes ist von geringer Qualität oder in einer Fremdsprache. Trotzdem anzeigen
3
Parametric Reliability of 6T-SRAM Core Cell Arrays
DE PB NWISBN: 9783844010091 bzw. 3844010092, in Deutsch, Shaker Verlag, Taschenbuch, neu.
Lieferung aus: Deutschland, Versandkosten nach: Österreich.
Von Händler/Antiquariat, Bücher Thöne GbR, [3080972].
Die Beschreibung dieses Angebotes ist von geringer Qualität oder in einer Fremdsprache. Trotzdem anzeigen
Von Händler/Antiquariat, Bücher Thöne GbR, [3080972].
Die Beschreibung dieses Angebotes ist von geringer Qualität oder in einer Fremdsprache. Trotzdem anzeigen
4
Symbolbild
Parametric Reliability of 6T-SRAM Core Cell Arrays (2012)
DE PB NWISBN: 9783844010091 bzw. 3844010092, in Deutsch, Shaker Verlag Mai 2012, Taschenbuch, neu.
Von Händler/Antiquariat, Rhein-Team Lörrach Ivano Narducci e.K. [57451429], Lörrach, Germany.
Die Beschreibung dieses Angebotes ist von geringer Qualität oder in einer Fremdsprache. Trotzdem anzeigen
Die Beschreibung dieses Angebotes ist von geringer Qualität oder in einer Fremdsprache. Trotzdem anzeigen
5
Parametric Reliability of 6T-SRAM Core Cell Arrays (2012)
DE PB NWISBN: 9783844010091 bzw. 3844010092, in Deutsch, Shaker Verlag Mai 2012, Taschenbuch, neu.
Von Händler/Antiquariat, AHA-BUCH GmbH [51283250], Einbeck, Germany.
Die Beschreibung dieses Angebotes ist von geringer Qualität oder in einer Fremdsprache. Trotzdem anzeigen
Die Beschreibung dieses Angebotes ist von geringer Qualität oder in einer Fremdsprache. Trotzdem anzeigen
Lade…