Elaboration et caractérisation des dépôts aluminium sur silicium
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Dans ce travail nous nous sommes intéressés à la croissance et la diffusion superficielle de l'Aluminium sur un substrat de Silicium (400). Ce travail comporte deux parties : La première partie consiste à réaliser sous-vide et à température ambiante des dépôts de différentes épaisseurs d = 240, 510, 720, 870 et 1050 A. Ces dépôts ont été analysés quantitativement par DRX. L'Aluminium semble croisse sur le silicium selon le mode de Frank-van Der Merwe. La deuxième partie de notre travail est consacrée à l'étude de l'effet de la température de recuit sur la morphologie des dépôts réalisés à température ambiante. Les températures de recuits sont : 100,150, 200, 250, 300, 350 et 400C. D'après les résultats d'analyse par DRX des dépôts traités, les îlots (2D) d'Aluminium formés à température ambiante se transforment en augmentant la température de recuit, en îlots (3D) plus hauts et plus ramenés. 2019, Taschenbuch / Paperback, Neuware, H: 220mm, B: 150mm, 96, Internationaler Versand, Selbstabholung und Barzahlung, PayPal, offene Rechnung, Banküberweisung.

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Elaboration et caractérisation des dépôts aluminium sur silicium: Dans ce travail nous nous sommes intéressés ? la croissance et la diffusion superficielle de l`Aluminium sur un substrat de Silicium (400). Ce travail comporte deux parties : La première partie consiste ? réaliser sous-vide et ? température ambiante des dépôts de différentes épaisseurs d = 240, 510, 720, 870 et 1050 A?. Ces dépôts ont ?t? analysés quantitativement par DRX. L`Aluminium semble croisse sur le silicium selon le mode de Frank-van Der Merwe. La deuxième partie de notre travail est consacrée ? l`étude de l`effet de la température de recuit sur la morphologie des dépôts réalisés ? température ambiante. Les températures de recuits sont : 100,150, 200, 250, 300, 350 et 400C?. D`après les résultats d`analyse par DRX des dépôts traités, les îlots (2D) d`Aluminium formés ? température ambiante se transforment en augmentant la température de recuit, en îlots (3D) plus hauts et plus ramenés. Französisch, Taschenbuch.

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Neuware - Dans ce travail nous nous sommes intéressés à la croissance et la diffusion superficielle de l'Aluminium sur un substrat de Silicium (400). Ce travail comporte deux parties : La première partie consiste à réaliser sous-vide et à température ambiante des dépôts de différentes épaisseurs d = 240, 510, 720, 870 et 1050 A°. Ces dépôts ont été analysés quantitativement par DRX. L'Aluminium semble croisse sur le silicium selon le mode de Frank-van Der Merwe. La deuxième partie de notre travail est consacrée à l'étude de l'effet de la température de recuit sur la morphologie des dépôts réalisés à température ambiante. Les températures de recuits sont : 100,150, 200, 250, 300, 350 et 400C°. D'après les résultats d'analyse par DRX des dépôts traités, les îlots (2D) d'Aluminium formés à température ambiante se transforment en augmentant la température de recuit, en îlots (3D) plus hauts et plus ramenés. 96 pp. Französisch.

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Dans ce travail nous nous sommes intéressés à la croissance et la diffusion superficielle de l´Aluminium sur un substrat de Silicium (400). Ce travail comporte deux parties : La première partie consiste à réaliser sous-vide et à température ambiante des dépôts de différentes épaisseurs d = 240, 510, 720, 870 et 1050 A°. Ces dépôts ont été analysés quantitativement par DRX. L´Aluminium semble croisse sur le silicium selon le mode de Frank-van Der Merwe. La deuxième partie de notre travail est Dans ce travail nous nous sommes intéressés à la croissance et la diffusion superficielle de l´Aluminium sur un substrat de Silicium (400). Ce travail comporte deux parties : La première partie consiste à réaliser sous-vide et à température ambiante des dépôts de différentes épaisseurs d = 240, 510, 720, 870 et 1050 A°. Ces dépôts ont été analysés quantitativement par DRX. L´Aluminium semble croisse sur le silicium selon le mode de Frank-van Der Merwe. La deuxième partie de notre travail est consacrée à l´étude de l´effet de la température de recuit sur la morphologie des dépôts réalisés à température ambiante. Les températures de recuits sont : 100,150, 200, 250, 300, 350 et 400C°. D´après les résultats d´analyse par DRX des dépôts traités, les îlots (2D) d´Aluminium formés à température ambiante se transforment en augmentant la température de recuit, en îlots (3D) plus hauts et plus ramenés. Sofort lieferbar Lieferzeit 1-2 Werktage.

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Von Händler/Antiquariat, averdo24.
Taschenbuch, Label: Fromm Verlag, Fromm Verlag, Produktgruppe: Book, Publiziert: 2019-06-22, Studio: Fromm Verlag.