IT-gestützte White-Spot-Analyse : Potenziale von Patentinformationen am Beispiel Elektromobilität erkennen. Fraunhofer IAO, Fraunhofer-Institut für Arbeitswirtschaft und Organisation IAO.
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9783839600917 - Siwczyk, Yvonne: IT-gestützte White-Spot-Analyse
Siwczyk, Yvonne

IT-gestützte White-Spot-Analyse (2010)

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ISBN: 9783839600917 bzw. 383960091X, in Deutsch, Fraunhofer Verlag, neu.

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Weiße Flecken auf geografischen Landkarten waren über Jahrhunderte hinweg Impulsgeber für technologischen Fortschritt. Auch heute noch suchen Forscher und Entwickler nach weißen Flecken auf der Landkarte technischer Innovationen - im Rahmen sogenannter Patentdatenanalysen. Die vorliegende Studie stellt in drei Kapiteln Methoden und Werkzeuge vor, mit deren Hilfe aus Patenttexten Potenziale für die Märkte von morgen extrahiert werden können. Die IT-gestützte White-Spot-Analyse des Fraunhofer IAO bietet dabei über gängige Analysemethoden hinaus die Möglichkeit, technische White Spots automatisiert aus Patenttexten zu extrahieren und diese an Hand wirtschaftlicher Daten auf ihre Potenziale für ein Unternehmen zu untersuchen. Abgerundet wird die Vorstellung der White-Spot-Analyse durch ein Praxisbeispiel zum aktuellen Thema Elektromobilität, speziell Batteriemanagementsystemen für Elektrofahrzeuge. Die Studie richtet sich an Unternehmen, die nach neuen Produktideen und Märkten suchen sowie IP-Management-Experten.
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9783839600917 - Siwczyk, Yvonne: IT-gestützte White-Spot-Analyse : Potenziale von Patentinformationen am Beispiel Elektromobilität erkennen. Fraunhofer IAO, Fraunhofer-Institut für Arbeitswirtschaft und Organisation IAO.
Siwczyk, Yvonne

IT-gestützte White-Spot-Analyse : Potenziale von Patentinformationen am Beispiel Elektromobilität erkennen. Fraunhofer IAO, Fraunhofer-Institut für Arbeitswirtschaft und Organisation IAO. (2010)

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9783839600917 - Siwczyk, Yvonne: IT-gestützte White-Spot-Analyse : Potenziale von Patentinformationen am Beispiel Elektromobilität erkennen. Fraunhofer IAO, Fraunhofer-Institut für Arbeitswirtschaft und Organisation IAO.
Siwczyk, Yvonne

IT-gestützte White-Spot-Analyse : Potenziale von Patentinformationen am Beispiel Elektromobilität erkennen. Fraunhofer IAO, Fraunhofer-Institut für Arbeitswirtschaft und Organisation IAO. (2010)

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64 Seiten : graph. Darst. Ehem. Bibliotheksexemplar m. Stempel u. Rückensignatur. Moderate Gebrauchsspuren, Text bis auf mögliche kleine Anstreichungen / Marginalien sauber. Insgesamt ein gutes Arbeitsexemplar. 9783839600917 Sprache: Deutsch Gewicht in Gramm: 530, Books.
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9783839600917 - Yvonne Siwczyk, Herausgeber: Stuttgart Fraunhofer IAO: IT-gestützte White-Spot-Analyse.: Potenziale von Patentinformationen am Beispiel Elektromobilität erkennen.
Yvonne Siwczyk, Herausgeber: Stuttgart Fraunhofer IAO

IT-gestützte White-Spot-Analyse.: Potenziale von Patentinformationen am Beispiel Elektromobilität erkennen. (2010)

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9783839600917 - Yvonne Siwczyk: IT-gestützte White-Spot-Analyse
Yvonne Siwczyk

IT-gestützte White-Spot-Analyse

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ISBN: 9783839600917 bzw. 383960091X, in Deutsch, Fraunhofer Irb Stuttgart, Taschenbuch, neu.

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