Entwurf signalverarbeitender Mikrosysteme. Einführung und Grundlagen.
10 Angebote vergleichen
Bester Preis: € 8,92 (vom 31.10.2016)Entwurf signalverarbeitender Mikrosysteme. Einführung und Grundlagen. (1994)
DE HC USISBN: 9783778521717 bzw. 3778521713, in Deutsch, Heidelberg : Hüthig, gebundenes Buch, gebraucht.
XVI, 304 S. : Ill., graph. Darst. , 25 cm Versand erfolgt am folgenden Werktag / mit Rechnung / ex-library / Hardcover Sprache: Deutsch.
Zuverlässigkeit von Elektronik- und Mikrosystemen. (2003)
DE PB USISBN: 9783816921592 bzw. 3816921590, in Deutsch, Expert-Verlag GmbH, Taschenbuch, gebraucht.
Von Händler/Antiquariat, rbmbooks.
Die Beschreibung dieses Angebotes ist von geringer Qualität oder in einer Fremdsprache. Trotzdem anzeigen
Zuverlässigkeit von Elektronik- und Mikrosystemen (2003)
DE PB USISBN: 9783816921592 bzw. 3816921590, in Deutsch, Expert-Verlag GmbH, Taschenbuch, gebraucht.
Von Händler/Antiquariat, Berlin Express.
Die Beschreibung dieses Angebotes ist von geringer Qualität oder in einer Fremdsprache. Trotzdem anzeigen
Zuverlässigkeit von Elektronik- und Mikrosystemen. (2003)
DE PB USISBN: 9783816921592 bzw. 3816921590, in Deutsch, Expert-Verlag GmbH, Taschenbuch, gebraucht.
Von Händler/Antiquariat, rbmbooks.
Die Beschreibung dieses Angebotes ist von geringer Qualität oder in einer Fremdsprache. Trotzdem anzeigen
Entwurf signalverarbeitender Mikrosysteme. Einführung und Grundlagen (1999)
DE HC NWISBN: 9783778521717 bzw. 3778521713, in Deutsch, 304 Seiten, Hüthig, gebundenes Buch, neu.
Von Händler/Antiquariat, chmade.
Gebundene Ausgabe, Label: Hüthig, Hüthig, Produktgruppe: Book, Publiziert: 1999-02, Studio: Hüthig.
Entwurf signalverarbeitender Mikrosysteme. Einführung und Grundlagen (1999)
DE HC USISBN: 9783778521717 bzw. 3778521713, in Deutsch, 304 Seiten, Hüthig, gebundenes Buch, gebraucht.
Von Händler/Antiquariat, fachbuecher-weltversand.
Gebundene Ausgabe, Label: Hüthig, Hüthig, Produktgruppe: Book, Publiziert: 1999-02, Studio: Hüthig.
Die Zuverlässigkeit von Elektronik- und Mikrosystemen: und ihr Zusammenhang mit Physik, Chemie und Metallkunde (Reihe Technik) (2003)
DE PB US FEISBN: 9783816921592 bzw. 3816921590, in Deutsch, 372 Seiten, expert, Taschenbuch, gebraucht, Erstausgabe.
Von Händler/Antiquariat, das Privatarchiv.
Die Beschreibung dieses Angebotes ist von geringer Qualität oder in einer Fremdsprache. Trotzdem anzeigen
Die Zuverlässigkeit von Elektronik- und Mikrosystemen - und ihr Zusammenhang mit Physik, Chemie und Metallkunde
DE PB USISBN: 3816921590 bzw. 9783816921592, in Deutsch, 372 Seiten, expert, Taschenbuch, gebraucht.
Von Privat, Buchstar, [3919950].
Die Beschreibung dieses Angebotes ist von geringer Qualität oder in einer Fremdsprache. Trotzdem anzeigen
Die Zuverlässigkeit von Elektronik- und Mikrosystemen: und ihr Zusammenhang mit Physik, Chemie und Metallkunde (Reihe Technik) (2003)
DE PB US FEISBN: 9783816921592 bzw. 3816921590, in Deutsch, 372 Seiten, expert, Taschenbuch, gebraucht, Erstausgabe.
Von Händler/Antiquariat, KWL-S Versandantiquariat.
Die Beschreibung dieses Angebotes ist von geringer Qualität oder in einer Fremdsprache. Trotzdem anzeigen
Zuverlässigkeit von Elektronik- und Mikrosystemen: Zusammenhang mit Physik, Chemie und Metallkunde
DE USISBN: 9783816921592 bzw. 3816921590, Band: 1, in Deutsch, expert-Verlag, Renningen, Deutschland, gebraucht.
Von Händler/Antiquariat, buxbox.
Die Beschreibung dieses Angebotes ist von geringer Qualität oder in einer Fremdsprache. Trotzdem anzeigen