Halbleiterprüfung : Licht- u. Rasterelektronenmikroskopie.
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9783778510070 - Schäfer, Wolfgang Terlecki, Georg: Halbleiterprüfung
Schäfer, Wolfgang Terlecki, Georg

Halbleiterprüfung (1986)

Lieferung erfolgt aus/von: Deutschland DE HC US FE

ISBN: 9783778510070 bzw. 377851007X, in Deutsch, Dr. Alfred Hüthig Verlag, Heidelberg, gebundenes Buch, gebraucht, Erstausgabe.

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Von Privat, Physikhase, [4479673].
Eine für die Praxis nützliche Zusammenstellung von Untersuchungsverfahren für die Halbleitertechnik. Eine Beschränkung auf Lichtoptik und rasterelektronenmikroskopie bot sich an, weil diese Geräte in Forschung, Entwicklung und Qualitätssicherung eine vielseitige Nutzung ermöglichen. In diesem Zusammenhang kann das Buch Studenten, insbesonders an Fachhochschulen, einen nützlichen Einblick in neure Untersuchungsmehtoden geben.Gebraucht, ehemaliges Bibliotheksexemplar. Auf den inneren Umschlagseiten einige Stempel und eingetragene Nummern der Bibliothek. Gebundener Einband. Der Signatur-Aufkleber auf dem Buchrücken wurde entfernt. Der Textteil ist augenscheinlich (ohne völlige Garantie) sauber. Hardcover/gebunden, leichte Gebrauchsspuren, 246 x 174 mm, 649g, 1.
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9783778510070 - Schäfer, Wolfgang ; Terlecki, Georg: Halbleiterprüfung. Licht- und Rasterelektronenmikroskopie
Symbolbild
Schäfer, Wolfgang ; Terlecki, Georg

Halbleiterprüfung. Licht- und Rasterelektronenmikroskopie (1986)

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ISBN: 9783778510070 bzw. 377851007X, in Deutsch, Heidelberg : Hüthig, 1986, gebundenes Buch.

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Von Händler/Antiquariat, VersandAntiquariat Claus Sydow [2646198], Berlin, Germany.
Pappband : Ecken bestoßen, Schnitt etwas nachgedunkelt u. m. einigen kleinen Flecken, sonst guter Zustand, 259 Seiten, m. zahlr. Abb. ; 17 x 25 cm 750 g.
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9783778510070 - Schäfer, Wolfgang und Georg Terlecki: Halbleiterprüfung : Licht- u. Rasterelektronenmikroskopie.
Schäfer, Wolfgang und Georg Terlecki

Halbleiterprüfung : Licht- u. Rasterelektronenmikroskopie. (1986)

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ISBN: 9783778510070 bzw. 377851007X, in Deutsch, Heidelberg : Hüthig.

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259 S. : Ill., graph. Darst. ; 25 cm Sehr gutes Exemplar - wie neu Sprache: Deutsch Gewicht in Gramm: 750.
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9783778510070 - Wolfgang Schäfer, Georg Terlecki: Halbleiterprüfung. Licht- und Rasterelektronenmikroskopie
Wolfgang Schäfer, Georg Terlecki

Halbleiterprüfung. Licht- und Rasterelektronenmikroskopie (1997)

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ISBN: 9783778510070 bzw. 377851007X, in Deutsch, 259 Seiten, Hüthig, gebundenes Buch, gebraucht.

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9783778510070 - Schäfer, Wolfgang / Terlecki, Georg: Halbleiterpr?fung. Licht- und Rasterelektronenmikroskopie.
Symbolbild
Schäfer, Wolfgang / Terlecki, Georg

Halbleiterpr?fung. Licht- und Rasterelektronenmikroskopie. (1986)

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