Halbleiterprüfung : Licht- u. Rasterelektronenmikroskopie.
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Halbleiterprüfung (1986)
DE HC US FE
ISBN: 9783778510070 bzw. 377851007X, in Deutsch, Dr. Alfred Hüthig Verlag, Heidelberg, gebundenes Buch, gebraucht, Erstausgabe.
Von Privat, Physikhase, [4479673].
Eine für die Praxis nützliche Zusammenstellung von Untersuchungsverfahren für die Halbleitertechnik. Eine Beschränkung auf Lichtoptik und rasterelektronenmikroskopie bot sich an, weil diese Geräte in Forschung, Entwicklung und Qualitätssicherung eine vielseitige Nutzung ermöglichen. In diesem Zusammenhang kann das Buch Studenten, insbesonders an Fachhochschulen, einen nützlichen Einblick in neure Untersuchungsmehtoden geben.Gebraucht, ehemaliges Bibliotheksexemplar. Auf den inneren Umschlagseiten einige Stempel und eingetragene Nummern der Bibliothek. Gebundener Einband. Der Signatur-Aufkleber auf dem Buchrücken wurde entfernt. Der Textteil ist augenscheinlich (ohne völlige Garantie) sauber. Hardcover/gebunden, leichte Gebrauchsspuren, 246 x 174 mm, 649g, 1.
Eine für die Praxis nützliche Zusammenstellung von Untersuchungsverfahren für die Halbleitertechnik. Eine Beschränkung auf Lichtoptik und rasterelektronenmikroskopie bot sich an, weil diese Geräte in Forschung, Entwicklung und Qualitätssicherung eine vielseitige Nutzung ermöglichen. In diesem Zusammenhang kann das Buch Studenten, insbesonders an Fachhochschulen, einen nützlichen Einblick in neure Untersuchungsmehtoden geben.Gebraucht, ehemaliges Bibliotheksexemplar. Auf den inneren Umschlagseiten einige Stempel und eingetragene Nummern der Bibliothek. Gebundener Einband. Der Signatur-Aufkleber auf dem Buchrücken wurde entfernt. Der Textteil ist augenscheinlich (ohne völlige Garantie) sauber. Hardcover/gebunden, leichte Gebrauchsspuren, 246 x 174 mm, 649g, 1.
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Symbolbild
Halbleiterprüfung. Licht- und Rasterelektronenmikroskopie (1986)
DE HC
ISBN: 9783778510070 bzw. 377851007X, in Deutsch, Heidelberg : Hüthig, 1986, gebundenes Buch.
Von Händler/Antiquariat, VersandAntiquariat Claus Sydow [2646198], Berlin, Germany.
Pappband : Ecken bestoßen, Schnitt etwas nachgedunkelt u. m. einigen kleinen Flecken, sonst guter Zustand, 259 Seiten, m. zahlr. Abb. ; 17 x 25 cm 750 g.
Pappband : Ecken bestoßen, Schnitt etwas nachgedunkelt u. m. einigen kleinen Flecken, sonst guter Zustand, 259 Seiten, m. zahlr. Abb. ; 17 x 25 cm 750 g.
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Halbleiterprüfung : Licht- u. Rasterelektronenmikroskopie. (1986)
DE
ISBN: 9783778510070 bzw. 377851007X, in Deutsch, Heidelberg : Hüthig.
Von Händler/Antiquariat, multilibri [60573123], Darmstadt, Germany.
259 S. : Ill., graph. Darst. ; 25 cm Sehr gutes Exemplar - wie neu Sprache: Deutsch Gewicht in Gramm: 750.
259 S. : Ill., graph. Darst. ; 25 cm Sehr gutes Exemplar - wie neu Sprache: Deutsch Gewicht in Gramm: 750.
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Halbleiterprüfung. Licht- und Rasterelektronenmikroskopie (1997)
DE HC US
ISBN: 9783778510070 bzw. 377851007X, in Deutsch, 259 Seiten, Hüthig, gebundenes Buch, gebraucht.
Lieferung aus: Deutschland, Versandfertig in 1 - 2 Werktagen.
Von Händler/Antiquariat, betterworldbooks__.
Die Beschreibung dieses Angebotes ist von geringer Qualität oder in einer Fremdsprache. Trotzdem anzeigen
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Symbolbild
Halbleiterpr?fung. Licht- und Rasterelektronenmikroskopie. (1986)
DE US
ISBN: 9783778510070 bzw. 377851007X, in Deutsch, H?thig Heidelberg. gebraucht.
Von Händler/Antiquariat, Better World Books [51315977], Mishawaka, IN, U.S.A.
Shows some signs of wear, and may have some markings on the inside.
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