Falls Sie nur an einem bestimmten Exempar interessiert sind, können Sie aus der folgenden Liste jenes wählen, an dem Sie interessiert sind:
100%: Peter Pichler: Intrinsic Point Defects Impurities and Their Diffusion in Silicon (ISBN: 9783709172049) Springer Vienna, in Englisch, Taschenbuch.Nur diese Ausgabe anzeigen…
73%: Pichler, Peter: Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon (Computational Microelectronics) (ISBN: 9783211206874) 2004, Springer-Verlag Kg Jun 2004, in Deutsch.Nur diese Ausgabe anzeigen…
54%: Ales Leonardis: Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon (ISBN: 9783709105979) Springer Netherlands, in Englisch, auch als eBook.Nur diese Ausgabe anzeigen…
Intrinsic Point Defects Impurities and Their Diffusion in Silicon
13 Angebote vergleichen
| Preise | 2016 | 2017 | 2019 | 2022 |
|---|---|---|---|---|
| Schnitt | € 308,47 | € 320,28 | € 258,64 | € 279,99 |
| Nachfrage |
Intrinsic Point Defects Impurities and Their Diffusion in Silicon (2004)
~EN PB NW RPISBN: 3709172047 bzw. 9783709172049, vermutlich in Englisch, Springer Vienna, Taschenbuch, neu, Nachdruck.
Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon
~EN PB NWISBN: 9783709172049 bzw. 3709172047, vermutlich in Englisch, Springer Shop, Taschenbuch, neu.
Basically all properties of semiconductor devices are influenced by the distribution of point defects in their active areas. This book contains the first comprehensive review of the properties of intrinsic point defects, acceptor and donor impurities, isovalent atoms, chalcogens, and halogens in silicon, as well as of their complexes. Special emphasis is placed on compiling the structures, energetic properties, identified electrical levels and spectroscopic signatures, and the diffusion behavior from experimental and theoretical investigations. In addition, the book discusses the fundamental concepts of silicon and its defects, the electron system, diffusion, thermodynamics, and reaction kinetics which form the scientific basis needed for a thorough understanding of the text. Therefore, the book is able to provide an introduction to newcomers in this field up to a comprehensive reference for experts in process technology, solid-state physics, and simulation of semiconductor processes. Soft cover.
Intrinsic Point Defects Impurities and Their Diffusion in Silicon (2004)
~EN PB NW RPISBN: 3709172047 bzw. 9783709172049, vermutlich in Englisch, Taschenbuch, neu, Nachdruck.
Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon
~EN NWISBN: 9783709172049 bzw. 3709172047, vermutlich in Englisch, neu.
Die Beschreibung dieses Angebotes ist von geringer Qualität oder in einer Fremdsprache. Trotzdem anzeigen
Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon (Computational Microelectronics) (2012)
EN PB NW RPISBN: 9783709172049 bzw. 3709172047, in Englisch, 554 Seiten, Springer, Taschenbuch, neu, Nachdruck.
Neu ab: $251.42 (7 Angebote)
Gebraucht ab: $252.03 (3 Angebote)
Zu den weiteren 10 Angeboten bei Amazon.com
Von Händler/Antiquariat, allnewbooks.
Die Beschreibung dieses Angebotes ist von geringer Qualität oder in einer Fremdsprache. Trotzdem anzeigen
Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon (Computational Microelectronics) (2012)
EN PB US RPISBN: 9783709172049 bzw. 3709172047, in Englisch, 588 Seiten, Springer, Taschenbuch, gebraucht, Nachdruck.
Neu ab: £223.66 (9 Angebote)
Gebraucht ab: £244.75 (4 Angebote)
Zu den weiteren 13 Angeboten bei Amazon.co.uk
Von Händler/Antiquariat, Herb Tandree Philosophy Books.
Die Beschreibung dieses Angebotes ist von geringer Qualität oder in einer Fremdsprache. Trotzdem anzeigen
Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon (2004)
DE NWISBN: 9783211206874 bzw. 3211206876, in Deutsch, Springer-Verlag Kg Jun 2004, neu.
Die Beschreibung dieses Angebotes ist von geringer Qualität oder in einer Fremdsprache. Trotzdem anzeigen
Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon
DE NWISBN: 9783211206874 bzw. 3211206876, in Deutsch, Springer-Verlag KG, neu.
Rheinberg-Buch, [3813847].
Die Beschreibung dieses Angebotes ist von geringer Qualität oder in einer Fremdsprache. Trotzdem anzeigen
Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon (2004)
DE NWISBN: 9783211206874 bzw. 3211206876, in Deutsch, Springer-Verlag KG, neu.
buchZ AG, [3859792].
Die Beschreibung dieses Angebotes ist von geringer Qualität oder in einer Fremdsprache. Trotzdem anzeigen
Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon (2004)
DE NWISBN: 9783211206874 bzw. 3211206876, in Deutsch, Springer-Verlag KG, neu.
Die Beschreibung dieses Angebotes ist von geringer Qualität oder in einer Fremdsprache. Trotzdem anzeigen