Polymere Ein- und Mehrschichtmaterialien fr die Kalibrierung moderner festkrperspektroskopischer Messsysteme (German Edition)
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Doktorarbeit / Dissertation aus dem Jahr 2013 im Fachbereich Chemie - Analytische Chemie, Note: 1,0, Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover (Naturwissenschaftliche Fakultät), Sprache: Deutsch, Abstract: In vielen modernen funktionellen Materialien werden dünne Schichten und Folien unterschiedlicher Materialzusammensetzung im Mikro- und Nanometerbereich kombiniert. Insbesondere polymere Beschichtungssysteme wurden seit jeher für verschiedene technische Anwendungen verwendet (z.B. als Beschichtung von Werkzeugen oder Geräten, Automobillackierungen etc.). Um bestimmte optische, elektrische, magnetische oder mechanische Eigenschaften beeinflussen oder generieren zu können, werden meist anorganische Füller in eine Polymermatrix eingearbeitet, so dass funktionali-sierte Polymerschichten synthetisiert werden können.Für die Quantifizierung solcher Mehrschichtstrukturen mithilfe von röntgenfluoreszenzspektroskopischen- oder massenspektrometrischen Messsystemen und eine spätere Validierung dieser Analysentechniken werden polymere Mehrschichten als Referenzmaterial benötigt, deren Analytkonzentrati-onen und Schichtdicken genau definiert sind. Messsysteme wie die dreidimensionale Röntgenfluoreszenzanalyse (3D RFA), ns-Laserablation-Quadrupolmassenspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma (ns-LA-ICP-QMS) und Flugzeit-Sekundärionenmassenspektrometrie (TOF-SIMS) werden zurzeit (weiter-)entwickelt oder sind erst seit kurzem verfügbar. Diese konfokalen oder tiefensensitiven Messsysteme erlauben eine semi- oder zerstörungsfreie Bestimmung anorganischer und/oder organischer Komponenten mit der Probentiefe.Zur Quantifizierung mit diesen Messmethoden müssen Referenzmaterialien einer definierten Schichtdicke mit stöchiometrischen Mengen an röntgen- oder massenspektrometrisch detektierbaren Substanzen präpariert werden, welche bisher kommerziell nicht verfügbar sind. Zudem stellen solche Messsysteme hohe Ansprüche an ein solches Referenzmaterial im Hinblick auf die elementare Zusammensetzung, Schichtstruktur, Aufbau, Film- und Schichtdicke, Homogenität, Stabilität etc. Die Kenntnis dieser Eigenschaften ist wichtig, da diese die Intensität des Röntgen- bzw. Isotopen-Signals direkt oder indirekt beeinflussen können.Verschiedene Präparationsmethoden erlauben die Herstellung solcher Mehrschichtsysteme mit unterschiedlichen Füllmaterialien bzw. Analyten, Schichtdicken und Schichtstrukturen, die den Schwerpunkt der vorliegenden Arbeit bilden und hier präsentiert werden. Zudem wird die Charakterisierung dieser Mehrschichtsysteme mit der 3D RFA, ns-LA-ICP-QMS und TOF-SIMS vorgestellt.Schlagwörter: 3D RFA, Laserablation, ICP-QMS, TOF-SIMS, Referenzmaterial2013. 200 S. 3 Farbabb. 210 mmVersandfertig in 3-5 Tagen, Softcover.

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Doktorarbeit / Dissertation aus dem Jahr 2013 im Fachbereich Chemie - Analytische Chemie, Note: 1,0, Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover (Naturwissenschaftliche Fakultät), Sprache: Deutsch, Abstract: In vielen modernen funktionellen Materialien werden dünne Schichten und Folien unterschiedlicher Materialzusammensetzung im Mikro- und Nanometerbereich kombiniert. Insbesondere polymere Beschichtungssysteme wurden seit jeher für verschiedene technische Anwendungen verwendet (z.B. als Beschichtung von Werkzeugen oder Geräten, Automobillackierungen etc.). Um bestimmte optische, elektrische, magnetische oder mechanische Eigenschaften beeinflussen oder generieren zu können, werden meist anorganische Füller in eine Polymermatrix eingearbeitet, so dass funktionali-sierte Polymerschichten synthetisiert werden können.Für die Quantifizierung solcher Mehrschichtstrukturen mithilfe von röntgenfluoreszenzspektroskopischen- oder massenspektrometrischen Messsystemen und eine spätere Validierung dieser Analysentechniken werden polymere Mehrschichten als Referenzmaterial benötigt, deren Analytkonzentrati-onen und Schichtdicken genau definiert sind. Messsysteme wie die dreidimensionale Röntgenfluoreszenzanalyse (3D miRFA), ns-Laserablation-Quadrupolmassenspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma (ns-LA-ICP-QMS) und Flugzeit-Sekundärionenmassenspektrometrie (TOF-SIMS) werden zurzeit (weiter-)entwickelt oder sind erst seit kurzem verfügbar. Diese konfokalen oder tiefensensitiven Messsysteme erlauben eine semi- oder zerstörungsfreie Bestimmung anorganischer und/oder organischer Komponenten mit der Probentiefe.Zur Quantifizierung mit diesen Messmethoden müssen Referenzmaterialien einer definierten Schichtdicke mit stöchiometrischen Mengen an röntgen- oder massenspektrometrisch detektierbaren Substanzen präpariert werden, welche bisher kommerziell nicht verfügbar sind. Zudem stellen solche Messsysteme hohe Ansprüche an ein solches Referenzmaterial im Hinblick auf die elementare Zusammensetzung, Schichtstruktur, Aufbau, Film- und Schichtdicke, Homogenität, Stabilität etc. Die Kenntnis dieser Eigenschaften ist wichtig, da diese die Intensität des Röntgen- bzw. Isotopen-Signals direkt oder indirekt beeinflussen können.Verschiedene Präparationsmethoden erlauben die Herstellung solcher Mehrschichtsysteme mit unterschiedlichen Füllmaterialien bzw. Analyten, Schichtdicken und Schichtstrukturen, die den Schwerpunkt der vorliegenden Arbeit bilden und hier präsentiert werden. Zudem wird die Charakterisierung dieser Mehrschichtsysteme mit der 3D miRFA, ns-LA-ICP-QMS und TOF-SIMS vorgestellt.Schlagwörter: 3D miRFA, Laserablation, ICP-QMS, TOF-SIMS, Referenzmaterial 200 S. 210 mm Versandfertig in 6-10 Tagen, Softcover, Neuware, Offene Rechnung (Vorkasse vorbehalten).

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This item is printed on demand. Paperback. Doktorarbeit Dissertation aus dem Jahr 2013 im Fachbereich Chemie - Analytische Chemie, Note: 1, 0, Gottfried Wilhelm Leibniz Universitt Hannover (Naturwissenschaftliche Fakultt), Sprache: Deutsch, Abstract: In vielen modernen funktionellen Materialien werden dnne Schichten und Folien unterschiedlicher Materialzusammensetzung im Mikro- und Nanometerbereich kombiniert. Insbesondere polymere Beschichtungssysteme wurden seit jeher fr verschiedene technische Anwendungen verwendet (z. B. als Beschichtung von Werkzeugen oder Gerten, Automobillackierungen etc. ). Um bestimmte optische, elektrische, magnetische oder mechanische Eigenschaften beeinflussen oder generieren zu knnen, werden meist anorganische Fller in eine Polymermatrix eingearbeitet, so dass funktionali-sierte Polymerschichten synthetisiert werden knnen. Fr die Quantifizierung solcher Mehrschichtstrukturen mithilfe von rntgenfluoreszenzspektroskopischen- oder massenspektrometrischen Messsystemen und eine sptere Validierung dieser Analysentechniken werden polymere Mehrschichten als Referenzmaterial bentigt, deren Analytkonzentrati-onen und Schichtdicken genau definiert sind. Messsysteme wie die dreidimensionale Rntgenfluoreszenzanalyse (3D RFA), ns-Laserablation-Quadrupolmassenspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma (ns-LA-ICP-QMS) und Flugzeit-Sekundrionenmassenspektrometrie (TOF-SIMS) werden zurzeit (weiter-)entwickelt oder sind erst seit kurzem verfgbar. Diese konfokalen oder tiefensensitiven Messsysteme erlauben eine semi- oder zerstrungsfreie Bestimmung anorganischer undoder organischer Komponenten mit der Probentiefe. Zur Quantifizierung mit diesen Messmethoden mssen Referenzmaterialien einer definierten Schichtdicke mit stchiometrischen Mengen an rntgen- oder massenspektrometrisch detektierbaren Substanzen prpariert werden, welche bisher kommerziell nicht verfgbar sind. Zudem stellen solche Messsysteme hohe Ansprche an ein solches Referenzmaterial im Hinblick auf die elemen This item ships from La Vergne,TN.

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