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100%: Sous la direction de: Bharat Bhushan, Sous la direction de: Satoshi Kawata: Applied Scanning Probe Methods VI: Characterization (NanoScience and Technology) (ISBN: 9783642072123) in Deutsch, Band: 6, Taschenbuch.
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47%: Herausgeber: Bharat Bhushan, Herausgeber: Satoshi Kawata: Applied Scanning Probe Methods VI (ISBN: 9783540373186) 2006, Springer Berlin, 2007. Ausgabe, in Englisch, Bände: 6, 7, Broschiert.Nur diese Ausgabe anzeigen…
41%: Herausgeber: Bharat Bhushan, Herausgeber: Satoshi Kawata: Applied Scanning Probe Methods VI: Characterization: v. 6 (NanoScience and Technology) (ISBN: 9783540373193) Springer, Berlin/Heidelberg, Deutschland, in Deutsch, auch als eBook.Nur diese Ausgabe anzeigen…
Applied Scanning Probe Methods VI: Characterization (NanoScience and Technology)
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| Preise | 2013 | 2014 | 2015 |
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Applied Scanning Probe Methods VI (2006)
~EN NWISBN: 9783540373186 bzw. 3540373187, Bände: 6, 7, vermutlich in Englisch, Springer Berlin, neu.
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The scanning probe microscopy "eld has been rapidly expanding. It is a demanding task to collect a timely overview of this "eld with an emphasis on technical dev- opments and industrial applications. It became evident while editing Vols. I–IV that a large number of technical and applicational aspects are present and rapidly - veloping worldwide. Considering the success of Vols. I–IV and the fact that further colleagues from leading laboratories were ready to contribute their latest achie- ments, we decided to expand the series with articles touching "elds not covered in the previous volumes. The response and support of our colleagues were excellent, making it possible to edit another three volumes of the series. In contrast to to- cal conference proceedings, the applied scanning probe methods intend to give an overview of recent developments as a compendium for both practical applications and recent basic research results, and novel technical developments with respect to instrumentation and probes. The present volumes cover three main areas: novel probes and techniques (Vol. V), charactarization (Vol. VI), and biomimetics and industrial applications (Vol. VII). Volume V includes an overview of probe and sensor technologies including integrated cantilever concepts, electrostatic microscanners, low-noise methods and improved dynamic force microscopy techniques, high-resonance dynamic force - croscopy and the torsional resonance method, modelling of tip cantilever systems, scanning probe methods, approaches for elasticity and adhesion measurements on the nanometer scale as well as optical applications of scanning probe techniques based on near?eld Raman spectroscopy and imaging. gebundene Ausgabe, 18.10.2006.
The scanning probe microscopy "eld has been rapidly expanding. It is a demanding task to collect a timely overview of this "eld with an emphasis on technical dev- opments and industrial applications. It became evident while editing Vols. I–IV that a large number of technical and applicational aspects are present and rapidly - veloping worldwide. Considering the success of Vols. I–IV and the fact that further colleagues from leading laboratories were ready to contribute their latest achie- ments, we decided to expand the series with articles touching "elds not covered in the previous volumes. The response and support of our colleagues were excellent, making it possible to edit another three volumes of the series. In contrast to to- cal conference proceedings, the applied scanning probe methods intend to give an overview of recent developments as a compendium for both practical applications and recent basic research results, and novel technical developments with respect to instrumentation and probes. The present volumes cover three main areas: novel probes and techniques (Vol. V), charactarization (Vol. VI), and biomimetics and industrial applications (Vol. VII). Volume V includes an overview of probe and sensor technologies including integrated cantilever concepts, electrostatic microscanners, low-noise methods and improved dynamic force microscopy techniques, high-resonance dynamic force - croscopy and the torsional resonance method, modelling of tip cantilever systems, scanning probe methods, approaches for elasticity and adhesion measurements on the nanometer scale as well as optical applications of scanning probe techniques based on near?eld Raman spectroscopy and imaging. gebundene Ausgabe, 18.10.2006.
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Applied Scanning Probe Methods: v. 6: Characterization (2004)
DE PB NWISBN: 9783642072123 bzw. 3642072127, Band: 6, in Deutsch, Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. K, Taschenbuch, neu.
Von Händler/Antiquariat, BuySomeBooks [52360437], Las Vegas, NV, U.S.A.
Paperback. 338 pages. Dimensions: 9.0in. x 6.0in. x 0.9in.The first volume in the series was released in January 2004 and the second to fourth volumes in early 2006. The field is now progressing so fast that there is a need for one volume every 12 to 18 months to capture latest developments. Volume VI presents 10 chapters on a variety of new and emerging techniques and refinements of SPM applications. This item ships from multiple locations. Your book may arrive from Roseburg,OR, La Vergne,TN.
Paperback. 338 pages. Dimensions: 9.0in. x 6.0in. x 0.9in.The first volume in the series was released in January 2004 and the second to fourth volumes in early 2006. The field is now progressing so fast that there is a need for one volume every 12 to 18 months to capture latest developments. Volume VI presents 10 chapters on a variety of new and emerging techniques and refinements of SPM applications. This item ships from multiple locations. Your book may arrive from Roseburg,OR, La Vergne,TN.
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Applied Scanning Probe Methods VI (2007)
DE NWISBN: 9783540373193 bzw. 3540373195, in Deutsch, Springer, Berlin/Heidelberg, Deutschland, neu.
Lieferung aus: Vereinigtes Königreich Großbritannien und Nordirland, Versandkostenfrei.
Applied Scanning Probe Methods VI ab 151.99 € als pdf eBook: Characterization. Auflage 2007. Aus dem Bereich: eBooks, Sachthemen & Ratgeber, Technik,.
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Applied Scanning Probe Methods VI - Characterization (2006)
DE NW EB DLISBN: 9783540373193 bzw. 3540373195, in Deutsch, Springer Berlin, neu, E-Book, elektronischer Download.
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Applied Scanning Probe Methods VI (2010)
DE PB NW RPISBN: 9783642072123 bzw. 3642072127, Band: 6, in Deutsch, Springer Nov 2010, Taschenbuch, neu, Nachdruck.
Von Händler/Antiquariat, AHA-BUCH GmbH [51283250], Einbeck, NDS, Germany.
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6
Applied Scanning Probe Methods VI: Characterization (NanoScience and Technology) (2004)
DE PB NWISBN: 9783642072123 bzw. 3642072127, Band: 6, in Deutsch, Springer, Berlin/Heidelberg/New York, NY, Deutschland, Taschenbuch, neu.
Von Händler/Antiquariat, BuySomeBooks [52360437], Las Vegas, NV, U.S.A.
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Applied Scanning Probe Methods VI
DE NWISBN: 9783540373193 bzw. 3540373195, Band: 6, in Deutsch, Springer Berlin, neu.
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8
Applied Scanning Probe Methods VI als eBook von (2007)
DE NWISBN: 9783540373193 bzw. 3540373195, in Deutsch, Springer Berlin Heidelberg, neu.
Lieferung aus: Vereinigtes Königreich Großbritannien und Nordirland, Versandkostenfrei.
Applied Scanning Probe Methods VI ab 151.99 EURO Characterization. Auflage 2007.
Applied Scanning Probe Methods VI ab 151.99 EURO Characterization. Auflage 2007.
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Applied Scanning Probe Methods VI - Characterization
DE NW EB DLISBN: 9783540373193 bzw. 3540373195, Bände: 5-7, in Deutsch, Springer-Verlag, neu, E-Book, elektronischer Download.
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10
Applied Scanning Probe Methods VI. Characterization (2010)
DE PB USISBN: 9783642072123 bzw. 3642072127, in Deutsch, Springer, Taschenbuch, gebraucht.
Von Händler/Antiquariat, Herb Tandree Philosophy Books [17426], Stroud, United Kingdom.
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