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100%: Benninghoven, Alfred: Quantitative Bestimmung der Sekundärionenausbeuten sauerstoffbedeckter Metalle (Forschungsberichte des Landes Nordrhein-Westfalen / Fachgruppe Textilforschung) (ISBN: 9783531027845) in Deutsch, Taschenbuch.Nur diese Ausgabe anzeigen…
76%: Alfred Benninghoven: Quantitative Bestimmung der Sekundärionenausbeuten sauerstoffbedeckter Metalle (ISBN: 9783322881267) Springer Nature, in Deutsch, auch als eBook.Nur diese Ausgabe anzeigen…
Quantitative Bestimmung der Sekundärionenausbeuten sauerstoffbedeckter Metalle (Forschungsberichte des Landes Nordrhein-Westfalen / Fachgruppe Textilforschung)
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| Preise | 2013 | 2014 | 2015 |
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Quantitative Bestimmung Der Sekundarionenausbeuten Sauerstoffbedeckter Metalle
DE PB NWISBN: 9783531027845 bzw. 3531027840, in Deutsch, Vs Verlag Fur Sozialwissenschaften, Taschenbuch, neu.
Von Händler/Antiquariat, BuySomeBooks [52360437], Las Vegas, NV, U.S.A.
Paperback. 45 pages. Dimensions: 9.6in. x 6.7in. x 0.1in.Die physikalischen und chemischen Eigenschaften einer Fest krperoberflche werden von ihrer Zusammensetzung im Bereich der obersten Atomlagen bestimmt. Eine mglichst genaue Kennt nis der chemischen Zusammensetzung der Festkrperoberflche ist Voraussetzung fr das Verstndnis vieler technisch wich tiger Bereiche wie z. B. Katalyse, Korrosion und Dnnschicht technik. Ein Verfahren zur Oberflchenanalyse, das eine um fassende Information ber diese Eigenschaften liefert, sollte daher folgende Forderungen erfllen: 1. Anwendbarkeit auf beliebige Proben 2. Informationstiefe im Bereich einer Monolage 3. Nachweis von Elementen und Verbindungen 4. Trennung von Isotopen 5. Hohe Empfindlichkeit 6. Hohes Auflsungsvermgen 7. Keine Diskriminierung bestimmter Komponenten 8. Keine Beinflussung der Oberflche durch den Analysenvorgang selbst Kein Verfahren zur Oberflchenanalyse kann alle diese Forderunger erfllen. Im Vergleich zu anderen Verfahren wie z. B. der Auger Elektronen-Spektroskopie (AES) (1), der Photoelektronen-Spektros kopie (ESCA) (2, 3) oder der Ionenrckstreuung (ISS) (4) besitzt die Sekundrionen-Massenspektrometrie (SIMS) (5-8) jedoch folgende Vorteile: 1. Direkter Nachweis von chemischen Verbindungen, 2. Nachweis von Wasserstoff und seinen Verbindungen, 3. Trennung von Isotopen, 4. Hohe Empfindlichkeit fr viele Elemente und Verbindungen. Damit ist das SIMS-Verfahren insbesondere zur Untersuchung von monomolekularen Oberflchenschichten und Oberflchenreaktionen sowie zur Spurenanalyse geeignet. Ein wichtiger Nachteil des - 2 - Verfahrens ist jedoch die fr die einzelnen Elemente und Verbindungen um Grenordnungen verschiedene Nachweis empfindlichkeit, die zudem nicht nur von dem betreffenden Element bzw. der Verbindung selbst, sondern auch von dessen Umgebung, der Matrix, abhngt. This item ships from multiple locations. Your book may arrive from Roseburg,OR, La Vergne,TN.
Paperback. 45 pages. Dimensions: 9.6in. x 6.7in. x 0.1in.Die physikalischen und chemischen Eigenschaften einer Fest krperoberflche werden von ihrer Zusammensetzung im Bereich der obersten Atomlagen bestimmt. Eine mglichst genaue Kennt nis der chemischen Zusammensetzung der Festkrperoberflche ist Voraussetzung fr das Verstndnis vieler technisch wich tiger Bereiche wie z. B. Katalyse, Korrosion und Dnnschicht technik. Ein Verfahren zur Oberflchenanalyse, das eine um fassende Information ber diese Eigenschaften liefert, sollte daher folgende Forderungen erfllen: 1. Anwendbarkeit auf beliebige Proben 2. Informationstiefe im Bereich einer Monolage 3. Nachweis von Elementen und Verbindungen 4. Trennung von Isotopen 5. Hohe Empfindlichkeit 6. Hohes Auflsungsvermgen 7. Keine Diskriminierung bestimmter Komponenten 8. Keine Beinflussung der Oberflche durch den Analysenvorgang selbst Kein Verfahren zur Oberflchenanalyse kann alle diese Forderunger erfllen. Im Vergleich zu anderen Verfahren wie z. B. der Auger Elektronen-Spektroskopie (AES) (1), der Photoelektronen-Spektros kopie (ESCA) (2, 3) oder der Ionenrckstreuung (ISS) (4) besitzt die Sekundrionen-Massenspektrometrie (SIMS) (5-8) jedoch folgende Vorteile: 1. Direkter Nachweis von chemischen Verbindungen, 2. Nachweis von Wasserstoff und seinen Verbindungen, 3. Trennung von Isotopen, 4. Hohe Empfindlichkeit fr viele Elemente und Verbindungen. Damit ist das SIMS-Verfahren insbesondere zur Untersuchung von monomolekularen Oberflchenschichten und Oberflchenreaktionen sowie zur Spurenanalyse geeignet. Ein wichtiger Nachteil des - 2 - Verfahrens ist jedoch die fr die einzelnen Elemente und Verbindungen um Grenordnungen verschiedene Nachweis empfindlichkeit, die zudem nicht nur von dem betreffenden Element bzw. der Verbindung selbst, sondern auch von dessen Umgebung, der Matrix, abhngt. This item ships from multiple locations. Your book may arrive from Roseburg,OR, La Vergne,TN.
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Quantitative Bestimmung der Sekundärionenausbeuten sauerstoffbedeckter Metalle (1978)
DE NWISBN: 9783531027845 bzw. 3531027840, in Deutsch, VS Verlag fur Sozialwissenschaften, VS Verlag fur Sozialwissenschaften, VS Verlag fur Sozialwissenschaften, neu.
Lieferung aus: Vereinigte Staaten von Amerika, zzgl. Versandkosten, Free Shipping on eligible orders over $25.
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Quantitative Bestimmung der Sekundärionenausbeuten sauerstoffbedeckter Metalle (1978)
DE PB NW RPISBN: 9783531027845 bzw. 3531027840, in Deutsch, VS-Verlag, Wiesbaden, Deutschland, Taschenbuch, neu, Nachdruck.
Von Händler/Antiquariat, AHA-BUCH GmbH [51283250], Einbeck, NDS, Germany.
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Quantitative Bestimmung der Sekundärionenausbeuten sauerstoffbedeckter Metalle (1978)
DE PB NW RPISBN: 9783531027845 bzw. 3531027840, in Deutsch, Springer Vs Jan 1978, Taschenbuch, neu, Nachdruck.
Von Händler/Antiquariat, AHA-BUCH GmbH [51283250], Einbeck, Germany.
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Symbolbild
Quantitative Bestimmung Der Sekundarionenausbeuten Sauerstoffbedeckter Metalle (2014)
DE PB NWISBN: 9783531027845 bzw. 3531027840, in Deutsch, VS-Verlag, Wiesbaden, Deutschland, Taschenbuch, neu.
Von Händler/Antiquariat, Books2Anywhere [190245], Fairford, GLO, United Kingdom.
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Quantitative Bestimmung der Sekundärionenausbeuten sauerstoffbedeckter Metalle
DE NW EBISBN: 9783322881267 bzw. 3322881261, in Deutsch, Springer Nature, neu, E-Book.
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