(Leitfäden Monographien der Informatik) (German Edition)
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Der Test stellt einen wichtigen Schritt im Entwurfs-und Herstellungsablauf digitaler Schal tungen dar, indem er unter Anwendung bestimmter Eingangssignale die Funktion einer ent worfenen Schaltung an einem hergestellten Exemplar zu verifizieren erlaubt. Diese Aufga bensteIlung gilt gleichermaßen für diskret aufgebaute Logik wie für integrierte Schaltungen. Doch kommt wegen der begrenzten Zahl der externen Anschlüsse bei größeren integrierten Schaltungen fast zwangsläufig die Aufgabe hinzu, Testbarkeitsaspekte beim Entwurf zu berücksichtigen, da andernfalls ein hinreichender Test häufig nicht oder nur mit größeren Schwierigkeiten durchzuführen ist. Das liegt an der "Zugänglichkeit" integrierter Schal tungen, die durch die Anzahl externer Anschlüsse beschränkt ist. Aus diesen und anderen Gründen ist der Test digitaler Schaltungen sinnvollerweise zusammen mit Überlegungen zur Testbarkeit einer Schaltung zu sehen. Traditionell ist der Test digitaler Schaltungen um die logische Entwurfsebene herum ange ordnet, d.h. daß die logische Ebene den Ausgangspunkt für die Testvorbereitung und die Testdurchführung darstellt. Es gibt darüber hinaus heute auch Ansätze, die von hierar chisch höheren Ebenen ausgehen, doch hat sich bisher in diesem Bereich keine allgemein anerkannte Methodik etabliert, wie das für die logische Ebene der Fall ist. Es ist jedoch auch für den Testbereich wichtig, der wachsenden Komplexität der Schaltungen dadurch Rechnung zu tragen, daß man hierarchische Methoden für deren Prüfung einsetzt. Die Notwendigkeit, eine Schaltung zu prüfen, ergibt sich im Rahmen ihrer Entstehung mehrfach, wenn auch mit unterschiedlicher Zielsetzung.229 S. 20 SW-Abb.Versandfertig in 3-5 Tagen, Softcover.

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Der Test stellt einen wichtigen Schritt im Entwurfs-und Herstellungsablauf digitaler Schal­ tungen dar, indem er unter Anwendung bestimmter Eingangssignale die Funktion einer ent­ worfenen Schaltung an einem hergestellten Exemplar zu verifizieren erlaubt. Diese Aufga­ bensteIlung gilt gleichermaßen für diskret aufgebaute Logik wie für integrierte Schaltungen. Doch kommt wegen der begrenzten Zahl der externen Anschlüsse bei größeren integrierten Schaltungen fast zwangsläufig die Aufgabe hinzu, Testbarkeitsaspekte beim Entwurf zu berücksichtigen, da andernfalls ein hinreichender Test häufig nicht oder nur mit größeren Schwierigkeiten durchzuführen ist. Das liegt an der "Zugänglichkeit" integrierter Schal­ tungen, die durch die Anzahl externer Anschlüsse beschränkt ist. Aus diesen und anderen Gründen ist der Test digitaler Schaltungen sinnvollerweise zusammen mit Überlegungen zur Testbarkeit einer Schaltung zu sehen. Traditionell ist der Test digitaler Schaltungen um die logische Entwurfsebene herum ange­ ordnet, d.h. daß die logische Ebene den Ausgangspunkt für die Testvorbereitung und die Testdurchführung darstellt. Es gibt darüber hinaus heute auch Ansätze, die von hierar­ chisch höheren Ebenen ausgehen, doch hat sich bisher in diesem Bereich keine allgemein anerkannte Methodik etabliert, wie das für die logische Ebene der Fall ist. Es ist jedoch auch für den Testbereich wichtig, der wachsenden Komplexität der Schaltungen dadurch Rechnung zu tragen, daß man hierarchische Methoden für deren Prüfung einsetzt. Die Notwendigkeit, eine Schaltung zu prüfen, ergibt sich im Rahmen ihrer Entstehung mehrfach, wenn auch mit unterschiedlicher Zielsetzung. Perfect Paperback, Ausgabe: 1988, Label: Vieweg+Teubner Verlag, Vieweg+Teubner Verlag, Produktgruppe: Book, Publiziert: 2012-12-06, Freigegeben: 1988-10-01, Studio: Vieweg+Teubner Verlag.

Von Händler/Antiquariat, BuySomeBooks [52360437], Las Vegas, NV, U.S.A.
Perfect Paperback. 229 pages. Dimensions: 9.0in. x 6.3in. x 0.5in.Der Test stellt einen wichtigen Schritt im Entwurfs-und Herstellungsablauf digitaler Schal tungen dar, indem er unter Anwendung bestimmter Eingangssignale die Funktion einer ent worfenen Schaltung an einem hergestellten Exemplar zu verifizieren erlaubt. Diese Aufga bensteIlung gilt gleichermaen fr diskret aufgebaute Logik wie fr integrierte Schaltungen. Doch kommt wegen der begrenzten Zahl der externen Anschlsse bei greren integrierten Schaltungen fast zwangslufig die Aufgabe hinzu, Testbarkeitsaspekte beim Entwurf zu bercksichtigen, da andernfalls ein hinreichender Test hufig nicht oder nur mit greren Schwierigkeiten durchzufhren ist. Das liegt an der Zugnglichkeit integrierter Schal tungen, die durch die Anzahl externer Anschlsse beschrnkt ist. Aus diesen und anderen Grnden ist der Test digitaler Schaltungen sinnvollerweise zusammen mit berlegungen zur Testbarkeit einer Schaltung zu sehen. Traditionell ist der Test digitaler Schaltungen um die logische Entwurfsebene herum ange ordnet, d. h. da die logische Ebene den Ausgangspunkt fr die Testvorbereitung und die Testdurchfhrung darstellt. Es gibt darber hinaus heute auch Anstze, die von hierar chisch hheren Ebenen ausgehen, doch hat sich bisher in diesem Bereich keine allgemein anerkannte Methodik etabliert, wie das fr die logische Ebene der Fall ist. Es ist jedoch auch fr den Testbereich wichtig, der wachsenden Komplexitt der Schaltungen dadurch Rechnung zu tragen, da man hierarchische Methoden fr deren Prfung einsetzt. Die Notwendigkeit, eine Schaltung zu prfen, ergibt sich im Rahmen ihrer Entstehung mehrfach, wenn auch mit unterschiedlicher Zielsetzung. This item ships from multiple locations. Your book may arrive from Roseburg,OR, La Vergne,TN.

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Trade paperback, 1988 ed.

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Softcover, 1988 ed.