Espectroscopia Fotoelectrónica de rayos X (XPS) - Un fundamento - La XPS,es una excelente técnica de caracterización de las superficies de los materiales
3 Angebote vergleichen
Bester Preis: € 46,95 (vom 02.08.2017)1
Espectroscopia Fotoelectrónica de rayos X (XPS) - Un fundamento als von Pedro José Rodríguez Sulbarán, Freddy Emilio Imbert
DE HC NW
ISBN: 9783330091870 bzw. 3330091878, in Deutsch, gebundenes Buch, neu.
Lieferung aus: Deutschland, zzgl. Versandkosten.
Espectroscopia Fotoelectrónica de rayos X (XPS) - Un fundamento ab 49.9 EURO La XPS, es una excelente técnica de caracterización de las superficies de los materiales, Espectroscopia Fotoelectrónica de rayos X (XPS) - Un fundamento ab 49.9 EURO La XPS, es una excelente técnica de caracterización de las superficies de los materiales.
Espectroscopia Fotoelectrónica de rayos X (XPS) - Un fundamento ab 49.9 EURO La XPS, es una excelente técnica de caracterización de las superficies de los materiales, Espectroscopia Fotoelectrónica de rayos X (XPS) - Un fundamento ab 49.9 EURO La XPS, es una excelente técnica de caracterización de las superficies de los materiales.
2
Espectroscopia Fotoelectrónica de rayos X (XPS) - Un fundamento - La XPS,es una excelente técnica de caracterización de las superficies de los materiales
DE PB NW
ISBN: 9783330091870 bzw. 3330091878, in Deutsch, EAE, Taschenbuch, neu.
Lieferung aus: Deutschland, Versandkostenfrei.
Die Beschreibung dieses Angebotes ist von geringer Qualität oder in einer Fremdsprache. Trotzdem anzeigen
Die Beschreibung dieses Angebotes ist von geringer Qualität oder in einer Fremdsprache. Trotzdem anzeigen
Lade…