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100%: IEEE Electron Devices Society: 1999 International Conference on the Simulation of Semiconductor Processes and (Sispad): Conference Proceedings (ISBN: 9784930813985) 1999, I.E.E.E.Press, in Englisch, Taschenbuch.Nur diese Ausgabe anzeigen…
39%: IEEE, Electron Devices Society Staff: 1997 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and SISPAD '97, September 8-10, 1997, Cambridge, MA USA (ISBN: 9780780337763) 1997, in Englisch.Nur diese Ausgabe anzeigen…
1999 International Conference on the Simulation of Semiconductor Processes and (Sispad): Conference Proceedings
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1997 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices: SISPAD '97, September 8-10, 1997, Cambridge, MA USA (1997)
EN USISBN: 9780780337763 bzw. 078033776X, in Englisch, Copies available from IEEE Servi, gebraucht.
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1997 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Sispad '97, September 8-10, 1997, Cambridge, Ma Usa (1997)
EN USISBN: 9780780337763 bzw. 078033776X, in Englisch, Copies available from IEEE Servi, gebraucht.
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1999 International Conference on the Simulation of Semiconductor Processes and (Sispad): Conference Proceedings (1999)
EN PB NWISBN: 9784930813985 bzw. 4930813980, in Englisch, 272 Seiten, I.E.E.E.Press, Taschenbuch, neu.
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Paperback, التسمية: I.E.E.E.Press, I.E.E.E.Press, مجموعة المنتجات: Book, ونشرت: 1999-11-30, تاريخ الإصدار: 1999-11-30, ستوديو: I.E.E.E.Press.
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Paperback, التسمية: I.E.E.E.Press, I.E.E.E.Press, مجموعة المنتجات: Book, ونشرت: 1999-11-30, تاريخ الإصدار: 1999-11-30, ستوديو: I.E.E.E.Press.
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1999 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and : SISPAD '99: September 6-8, 1999, Kyoto Research Park, Kyoto, Japa (1999)
~EN PB USISBN: 9784930813985 bzw. 4930813980, vermutlich in Englisch, Taschenbuch, gebraucht.
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Softcover book. 272 pages. Published by IEEE (1999).
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1997 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices: SISPAD '97, September 8-10, 1997, Cambridge, MA USA (1997)
EN USISBN: 9780780337763 bzw. 078033776X, in Englisch, 353 Seiten, Copies available from IEEE Service Center, gebraucht.
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International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and 1997
EN NWISBN: 9780780337763 bzw. 078033776X, in Englisch, IEEE, neu.
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